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薄膜檢測儀F42
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單價： 面議
起訂： 1 1臺
供貨總量： 1 1臺
發(fā)貨期限： 自買家付款之日起 天內發(fā)貨
所在地：
有效期至： 長期有效
最后更新： 2021-04-22
瀏覽次數(shù)： 3624
詢價
公司基本資料信息
 
 
產品詳細說明
  • 產品型號：F42
  • 產品規(guī)格：臺
  • 原 產 地：美國
  • 適用范圍：產品應用： 印刷電路板 半導體制造 液晶和有機發(fā)光二極管顯示器
  • 詳細描述：產品簡介：
             F42 2D厚度顯微測量系統(tǒng)可以進行顯微區(qū)域的高分辨率厚度測量，能夠繪制超過一百萬點的厚度測繪圖，每一點的測量面積*小為3微米。利用集成的CCD攝影機，實時視頻功能使其易于指明準確的測量點。當被測點置于視野內以后，只要在它周圍劃一個框進行分析即可。對屏幕上每一單個像素都能進行厚度測量，產生的測量點尺寸*小為3微米。這樣即便在溝槽和空洞*狹窄的地方也能進行測量。利用F42系統(tǒng)的測繪能力可以檢查結構的均勻性。點擊一次，就能計算超過一百萬個獨立的厚度并以易于閱讀的漸變測繪方式顯示出來?？梢宰詣佑嬎愠銎骄穸群推渌y(tǒng)計結果，并把所有超出范圍的厚度測量情況通知用戶。利用擬合優(yōu)度標準，可以在排除所有其他區(qū)域的同時對感興趣的區(qū)域進行測繪。  
    產品應用： 
             印刷電路板
             半導體制造
             液晶和有機發(fā)光二極管顯示器
  • 售后服務：
 
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